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隨著技術(shù)創(chuàng)新和精密工業(yè)的飛速發(fā)展，對(duì)測(cè)試儀器的性能要求亦逐步提升。TiX1060/885大師系列紅外熱像儀不只是卓越的工具，更是高端研發(fā)、電力巡檢和高校科研的強(qiáng)大伙伴。

憑借強(qiáng)大的成像技術(shù)，它可輕松捕捉細(xì)微的溫度變化，揭示潛在的缺陷和問(wèn)題。無(wú)論是在日益激烈的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中保持領(lǐng)先，還是在科研領(lǐng)域突破技術(shù)瓶頸，TiX1060/885大師系列紅外熱像儀都能助您一臂之力，開(kāi)啟全新視界，確保每一步創(chuàng)新與維護(hù)都精準(zhǔn)無(wú)誤。

應(yīng)用案例

1、電子制造

電子制造微米級(jí)小目標(biāo)檢測(cè)

某公司研發(fā)部門(mén)需要檢測(cè)芯片晶格的溫度分布情況。微米級(jí)小目標(biāo)檢測(cè)通常是溫度檢測(cè)的難點(diǎn)。由于傳感器尺寸的限制，接觸式溫度計(jì)無(wú)法檢測(cè)1mm以下的微小目標(biāo)。高端紅外熱像儀搭配專(zhuān)用的微距鏡頭，在像素和光學(xué)系統(tǒng)上均能達(dá)到性能要求，可有效檢測(cè)最小25微米的目標(biāo)。

<25 mK的熱靈敏度，大師系列熱像儀可捕捉物體表面微小的溫度變化和差異。從現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)情況來(lái)看，兩排晶格器件，上排器件的溫度為34.1℃，而下排器件的溫度為34.2℃，這說(shuō)明各方位排列的器件散熱情況是不同的。研發(fā)人員可以據(jù)此測(cè)試不同排列方式對(duì)器件的影響，也可單獨(dú)檢測(cè)某些問(wèn)題器件。

其他適用情況

LED芯片檢測(cè)、液晶屏壞點(diǎn)檢測(cè)、芯片金線(xiàn)檢測(cè)、PCB檢測(cè)等。

(TIX885加裝25μm鏡頭拍攝)

2、 電力運(yùn)檢

電力系統(tǒng)運(yùn)檢

在輸配電系統(tǒng)有大量金具常常因?yàn)榻佑|不良、腐蝕或內(nèi)部異常等原因，出現(xiàn)異常發(fā)熱和熱缺陷，威脅供電安全。在電力系統(tǒng)運(yùn)檢中，架空輸電電纜因其離地距離遠(yuǎn)、異常過(guò)熱點(diǎn)較小的特點(diǎn)，給定期運(yùn)檢造成極大不便。

大師系列專(zhuān)家級(jí)紅外熱像儀像素最高可達(dá)1024，最高支持1~35倍數(shù)碼變焦，可在遠(yuǎn)距離完成對(duì)焦，精準(zhǔn)且高效。

適用行業(yè)

電力行業(yè)：各級(jí)供電局、變電站的線(xiàn)路工區(qū)

過(guò)程行業(yè)：發(fā)電、石化、冶金、水泥等自備電廠

3、 高?？蒲?/strong>