隨著社會對流量的爆發(fā)式需求,光通信速率已經步入1TBit/s門檻,光通信系統(tǒng)中光器件的波長相關損耗(WDL)和偏振相關損耗(PDL)的影響不容忽視,如何降低測試成本和難度,增加測試速度和精度越來越成為測試人員關注的焦點。針對WDL和PDL的參數(shù)快速測試難題,“思儀科技”最新開發(fā)了波長快速掃描測試方案(圖1)。
圖 1 波長快速掃描測試方案
本方案結合公司自主研發(fā)的6317A可調諧激光源、9951A光波測試平臺,集成相關算法,優(yōu)化了波長快速掃描測試。關于WDL的測試方法行業(yè)通用,但是PDL不同測試方法有不同適用場景(如下表所示),綜合各測試方法的特點,穆勒矩陣法更適合 PDL波長特性的測試,因此本方案采用穆勒矩陣法。
通過實際的測試驗證,“思儀科技”的波長快速掃描測試方案能夠快速、準確地給出的WDL、 PDL測試結果,該方案體積小,集成度高,測試儀器由多臺精簡到兩臺,并可根據(jù)測試對象、測試需求擴展光衰減器、光開關等模塊,降低了測試成本50%以上。方案最小采樣時間可以達到10μs,準確度(典型值)可以高達 ±0.02dB(測試效果圖2所示)。
圖 2 波長快速掃描測試軟件(可定制)
“思儀科技”開發(fā)的波長掃描快速測試方案可以快速完成光器件的WDL和PDL測試,可光廣泛應用于波分復用模塊(DWDM、CWDM)、波長選擇開關(WSS)和集成光芯片的研發(fā)、生產和測試,同時該方案編程控制方便,可根據(jù)實際需求定制軟件并集成,實現(xiàn)一機靈活多用。波長快速掃描測試方案指標如下:
·工作波長:1480nm~1610nm
·掃描速度:1nm/s~200nm/s
·最小采樣時間:10μs
·PDL準確度(典型值):±(0.02+3% PDL) dB
·PDL重復性(典型值) :±0.01dB
·WDL準確度(典型值) :±0.02dB
·WDL重復性(典型值) :±0.01dB