光電傳感器表征專家光焱科技（Enlitech）日前推出全球第一套商業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化的最新型單光子探測(cè)器 (SPD, Single Photon Detector) 特性測(cè)試分析設(shè)備SPD2200。光焱科技整合了所有先進(jìn)光學(xué)與電學(xué)系統(tǒng)，提供完整與便利的軟件控制接口與分析功能，助力客戶加速直接飛行時(shí)間（dToF）單光子雪崩二極管（SPAD）產(chǎn)品的開發(fā)周期，提升競(jìng)爭(zhēng)力。

測(cè)試分析

SPD2200具備的全光譜性能測(cè)試包含：

- 全光譜光譜響應(yīng) (SR, Spectral Responsivity)

- 全光譜量子效率 (EQE, External Quantum Efficiency)

- 全光譜光子探測(cè)率 (PDP, Photon Detection Probability)

- 暗計(jì)數(shù)DCR (Dark Count Rate)

- 崩潰電壓BDV (Break-Down Voltage)

在不同電壓下，SPAD光子探測(cè)效率的PDE光譜

SPAD的暗計(jì)數(shù)與偏壓關(guān)系圖

SPAD暗計(jì)數(shù)與崩潰電壓

SPD2200亦能夠測(cè)試SPD的單光子辨析特性分析，包含：

- Jitter

- Afterpulsing probability

- Diffusion tail

- SNR

SPAD的Jitter測(cè)量

適用范圍

SPD2200適用各種傳感器測(cè)試分析，包含：

- SPAD

- SPD (Single Photon Detector)

- SiPM (Si PhotoMultiplier)

- MPPCs (Multi-Pixel Photon Counter)

- dToF Light Sensor

- LiDAR Sensor

- Wafer Level SPAD