隨著數(shù)據(jù)率不斷提高，高速數(shù)字設(shè)計及組件的信號完整性變得更具挑戰(zhàn)性。尤其在更高的數(shù)據(jù)率下，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 (VNA) 逐漸取代傳統(tǒng)的時域反射計 (TDR) 裝置，可用于測試連接器、電纜、PCB 等無源組件。VNA 有助提高準確性、速度以及 ESD 可靠性，是這個領(lǐng)域的理想之選。

驗證 PCB 上的數(shù)字高速信號結(jié)構(gòu)或執(zhí)行其他任務(wù)時，必須在特定層進行測量，同時確保不受探頭、探頭墊、通孔、引入線以及引出線的影響。因此，需要借助精確的去嵌算法計算并消除此類測量影響，確保只保留興趣區(qū)域的測量結(jié)果。

R&S®ZNB20 裝置可用于驗證 PCB 上高達 20 GHz 的高速差分信號線路

測試解決方案

以下裝置示例展示了驗證 PCB 上高達 20 GHz 的高速差分信號路線。該測試裝置基于 R&S®ZNB20 四端口 VNA。相應(yīng)去嵌工具（如 Delta-L、Delta-L+、PacketMicro 智能夾具去嵌 (SFD) 或 AtaiTec 原位去嵌 (ISD)）可直接在 R&S®ZNB20 上運行，無需使用外部電腦。

除了待測量的實際信號跡線之外，PCB 試樣通常還包括較短信號跡線以促進去嵌操作。PacketMicro 等公司的差分 PCB 探頭可用于連接 R&S®ZNB20 與此類信號跡線。

測試裝置

處理自動化

為精簡測試程序并指導(dǎo)操作員完成測試步驟，通常使用軟件自動執(zhí)行測試。左側(cè)屏幕截圖顯示測試程序

三個步驟示例：

?測量雙通（短）結(jié)構(gòu)以進行去嵌，結(jié)果顯示在左側(cè)欄中

?測量整體（長）結(jié)構(gòu)，結(jié)果顯示在中間欄中

?根據(jù)所選去嵌方法計算興趣區(qū)域，結(jié)果顯示在右側(cè)欄中

對于雙通（短）結(jié)構(gòu)以及整體（長）結(jié)構(gòu)測量，兩個探頭的阻抗變化趨勢顯示在插入損耗結(jié)果上方。這樣便于快速確定是否需要重新調(diào)整探頭。

眼圖

可以使用 R&S®ZNB-K20 選件進一步分析興趣區(qū)域的眼圖。此選件還可用于驗證眼圖中的加重、噪聲、抖動和均衡影響。它還可用于模板測試，并提供合格/不合格檢測與統(tǒng)計結(jié)果。

在頻域和時域中同時顯示眼圖和測量結(jié)果

結(jié)論

R&S®ZNB 具備所有必要功能，只需使用該儀器，即可測試 PCB 上的數(shù)字高速信號結(jié)構(gòu)。還可在該儀器上安裝其他去嵌工具，以便消除探頭、探頭墊、通孔、引入線以及引出線的影響。