微納米計量技術(shù)是微納米科技發(fā)展的基礎(chǔ)和保障，大力發(fā)展微納米計量工作，建立簡潔高效的計量體系對我國科技、經(jīng)濟發(fā)展意義重大。

文/李源（上海市計量測試技術(shù)研究院教授級高級工程師，主要從事微納米計量測試領(lǐng)域的研究工作。）

當(dāng)今，微納米科技已成為許多國家提升核心競爭力的戰(zhàn)略選擇，世界各國都在加強對微納米科技的研究，新技術(shù)、新突破接踵而至，并帶來深刻的科技革命。目前，微納米科技已逐步應(yīng)用到納米制造、微電子、新材料、環(huán)境監(jiān)測、超精密加工等前沿科技領(lǐng)域。

如果說微納米測量與表征技術(shù)是微納米科技與高科技產(chǎn)業(yè)發(fā)展的基礎(chǔ)和保障，那么微納米計量技術(shù)就是保證納米測量與表征準(zhǔn)確性和可溯源性的重要手段，通過建立完整的微納米尺寸計量量值溯源體系，為高科技產(chǎn)業(yè)、先進制造業(yè)和科技進步提供技術(shù)保障。微納米計量技術(shù)從米定義波長基準(zhǔn)開始，將波長物理參數(shù)通過標(biāo)準(zhǔn)裝置、標(biāo)準(zhǔn)樣板傳遞到高科技產(chǎn)業(yè)、先進制造業(yè)等相關(guān)儀器和裝置上，保障研究成果和開發(fā)產(chǎn)品的準(zhǔn)確性和可靠性。微納米尺寸計量量值溯源體系的建立包括3個要素：微納米計量標(biāo)準(zhǔn)器（標(biāo)準(zhǔn)樣板）的研制、微納米尺寸計量方法的研究和微納米幾何量表征。

建立我國溯源標(biāo)準(zhǔn)至關(guān)重要且迫在眉睫

在微納米科技水平不斷提高的大背景下，大量的納米加工制備儀器和測量儀器快速發(fā)展。以半導(dǎo)體制造領(lǐng)域為例，離子刻蝕機、電子刻蝕機等加工儀器和電子顯微鏡、原子力顯微鏡（AFM）、臺階儀、線寬儀等測量儀器的需求增長迅速，這些納米加工和檢測儀器大多依賴進口，單臺儀器的價值數(shù)以百萬元計。由于缺乏對這些儀器進行驗收的有效手段和方法，其主要技術(shù)指標(biāo)受制于相關(guān)儀器的出口廠家，貿(mào)易公平受到技術(shù)壁壘的挑戰(zhàn)。此外，為了保證測量儀器數(shù)值的準(zhǔn)確可靠，不少使用者不得不從國外進口納米尺度標(biāo)準(zhǔn)樣品并定期送至國外機構(gòu)計量，費用高、耗時長，而且未從根本上解決量值溯源問題。因此，無論就經(jīng)濟利益還是就國家戰(zhàn)略發(fā)展的政治意義而言，建立我國溯源標(biāo)準(zhǔn)至關(guān)重要且迫在眉睫。

通過建立我國的納米測量溯源標(biāo)準(zhǔn)，并使之作為溝通國際貿(mào)易和國際技術(shù)合作的紐帶，可以消除相關(guān)貿(mào)易體系的技術(shù)壁壘，推動我國納米相關(guān)產(chǎn)業(yè)的有序發(fā)展。以上海為中心的長三角地區(qū)，是我國經(jīng)濟和貿(mào)易最為發(fā)達的地區(qū)，也是以半導(dǎo)體、精密加工技術(shù)為代表的先進制造業(yè)的中心，在上海建立全國領(lǐng)先的納米測量溯源標(biāo)準(zhǔn)，對推動上海的半導(dǎo)體等先進制造業(yè)的發(fā)展有非常重要的作用。

微納米測量儀器

微納米計量的被測對象包括被測結(jié)構(gòu)的三維尺寸、位置和形貌特征等。目前，廣泛采用的檢測方法和儀器主要包括顯微干涉、共聚焦顯微、光學(xué)式輪廓儀、光學(xué)顯微視覺檢測等光學(xué)方法，原子力顯微鏡、掃描探針等掃描探針顯微方法，機械式輪廓儀，以及高精度坐標(biāo)測量方法等幾種。除此之外，還有幾種針對微結(jié)構(gòu)幾何量測量的光學(xué)方法，如三角測量法、激光光切法、光柵投影法等。

對于所有基于光學(xué)原理的幾何量測量方法，由于存在衍射受限，系統(tǒng)的橫向分辨率由物鏡的數(shù)值孔徑?jīng)Q定，一般在微米量級，這也就決定了它們不能分辨微米量級以下更細微的形貌特征。雖然有些光學(xué)測量方法能達到很高的縱向分辨率，但受橫向分辨的限制，其評定出的表面參數(shù)常常與其他類型儀器的測量結(jié)果有一定的差別。此外，光探針方法在測量含有較大傾斜角的輪廓表面時會出現(xiàn)部分光不能反射回物鏡的情況，造成測量誤差。在測量臺階邊緣時，光探針法會夸大測量結(jié)果，造成信號嚴(yán)重失真。對于干涉顯微法，在表面形貌上陡峭的斜坡產(chǎn)生的干涉條紋很細很密，以至于用面陣電荷耦合器件（CCD）難以探測和分辨，另外，基于光學(xué)干涉方法的儀器一般要求被測表面的材料必須相同。除此之外，在測量對象上，光學(xué)方法也受到了很多限制，即對曲面、溝槽等特殊結(jié)構(gòu)無法進行測量。掃描探針顯微鏡（SPM）最初作為圖像觀察儀器而發(fā)明，雖然它具有亞納米級分辨率，但是不能達到同等量級的測量精度。SPM的缺點也比較突出，主要體現(xiàn)在測量速度慢、效率低、測量范圍小。通過結(jié)合附加定位測量平臺的方法，進一步擴展SPM的應(yīng)用領(lǐng)域，也是當(dāng)前微納米計量領(lǐng)域的熱點研究工作。