儀器儀表商情網(wǎng)訊:羅德與施瓦茨全新推出的R&S RT-ZP1X無(wú)源1:1探頭,拓展了R&S 示波器的應(yīng)用范圍。探頭與示波器的前端均擁有極小的噪聲,兩者結(jié)合使其成為測(cè)量低至1 mV/div小信號(hào)的理想設(shè)備,如集成電路和元器件的電源完整性測(cè)試。
近期,在慕尼黑展會(huì)上了解到,用戶對(duì)供電電源測(cè)試的要求顯著提升。特別是在嵌入式設(shè)計(jì)領(lǐng)域,設(shè)計(jì)人員通過(guò)集成越來(lái)越多的功能模塊到極小的空間,進(jìn)而降低系統(tǒng)功耗。電源完整性測(cè)試在此類應(yīng)用中變得不可或缺。工程師需要測(cè)量電路中毫伏級(jí)別的信號(hào),從而研究元器件的噪聲特性。為了獲得有意義的測(cè)量結(jié)果,一款具有合適靈敏度、低噪聲的探頭是必不可少的。
新的R&S RT-ZP1X無(wú)源1:1探頭精確地匹配R&S RTE系列示波器(高至2 GHz帶寬)與R&S RTO1000/2000系列示波器(高至4 GHz帶寬)。該探頭配合R&S RTE系列示波器,提供了面向電源完整性市場(chǎng)最高性價(jià)比的解決方案。即使在1 MΩ輸入阻抗情況下,示波器的低噪聲前端可以實(shí)現(xiàn)低于650 μVpp的底噪 (1mV/div,200MHz帶寬)。而一般示波器僅能在50 Ω輸入阻抗下才能達(dá)到該等級(jí)的噪聲值。
得益于高達(dá)每秒一百萬(wàn)次的波形捕獲率,用戶可以快速獲得測(cè)量結(jié)果,完成直方圖和其他信號(hào)分析。16Bit高分辨模式(HD Mode)可以幫助用戶在最小的信號(hào)細(xì)節(jié)上進(jìn)行觸發(fā)與分析。
R&S RTE/RTO系列示波器基于硬件DDC的快速傅立葉變換(FFT)實(shí)現(xiàn)了準(zhǔn)實(shí)時(shí)頻譜分析,方便用戶查找耦合的干擾信號(hào)。獨(dú)特的區(qū)域觸發(fā)功能可以幫助用戶在時(shí)域和頻域直觀地通過(guò)圖形化設(shè)置分離異常事件,發(fā)現(xiàn)信號(hào)的違規(guī)狀態(tài)。
R&S RT-ZP1X無(wú)源1:1探頭也可支持R&S RTM系列和HMO系列示波器。