中電科思儀科技股份有限公司的6433系列光波元件分析儀不僅能實(shí)現(xiàn)對光器件(電光器件、光電器件、光光器件)的S參數(shù)測試,也可實(shí)現(xiàn)對5G光芯片(PD芯片、LD芯片)的S參數(shù)測試。
(一)光芯片測試面臨的問題
傳統(tǒng)的測試方法通過校準(zhǔn)片對探針進(jìn)行校準(zhǔn),該方法雖然校準(zhǔn)精度高,但是需要使用開路、短路、負(fù)載多個校準(zhǔn)片,且需要用戶自己創(chuàng)建校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn),校準(zhǔn)過程復(fù)雜,不利于用戶對儀器的使用。
(二)測試問題解決的思路
6433x系列光波元件分析儀以公司3672x系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀為平臺,通過基于自動夾具移除軟件選件可實(shí)現(xiàn)光芯片(直接調(diào)制激光器、電吸收調(diào)制器、光電探測器)快速地測試,有效地解決光芯片S參數(shù)測試前鏈路校準(zhǔn)的難題。測試時,將高頻探針等效為夾具,通過自動夾具移除測量高頻探針的時域參數(shù),利用信號流圖提取頻域參數(shù),形成s2p文件,進(jìn)而通過射頻去嵌入,實(shí)現(xiàn)光芯片的高精度S參數(shù)測試。
(三)解決問題的具體方法
以PD芯片為例,基于自動夾具移除的光芯片測試的測試連接如示意圖所示,輸出的光信號通過光纖跳線連接到被測芯片的輸入端,被測芯片輸出的電信號通過射頻電纜連接到儀器的射頻端口2。在測試時,首先通過自動夾具移除功能得到高頻探針的s2p文件,其次通過射頻去嵌入消除探針帶來的測量誤差,以獲得被測芯片的真實(shí)S參數(shù)。
(四)測試的案例效果
利用自動夾具移除功能,光波元件分析儀能夠準(zhǔn)確測量得到高頻探針的參數(shù)信息,在進(jìn)行電光芯片或光電芯片測試時,消除探針帶來的測量誤差,進(jìn)而高精度地表征芯片的S參數(shù),如下圖所示(基于6433光波元件分析儀實(shí)現(xiàn))成功完成了光芯片在片測試。
基于自動夾具移除的光芯片在片測試方案