四、MT8852B支持的AoA/AoD射頻測(cè)試功能
4.1 輸出功率（Output Power）
恒音擴(kuò)展（CTE）部分中的Tx等級(jí)變化會(huì)影響到相位檢測(cè)精度。該測(cè)量將恒音擴(kuò)展部分用傳統(tǒng)輸出功率測(cè)量方式來計(jì)算，得出平均功率值和峰值功率值，判斷是否在目標(biāo)測(cè)量范圍。圖7所顯示的是AoA發(fā)射的實(shí)際測(cè)量數(shù)值。
圖 7 輸出功率測(cè)量界面
4.2 載波頻率偏移量和漂移量（Carrier Frequency Offset and Drift）
與陣列天線同步接收不同，通過天線切換的分時(shí)接收信號(hào)用于計(jì)算相位差。因此，為了保持相位差精度，恒音擴(kuò)展（CTE）部分必須符合規(guī)定的頻率，并且需要降低頻率偏差。
傳統(tǒng)的載波頻率偏移是基于前導(dǎo)來進(jìn)行測(cè)量，傳統(tǒng)的漂移是基于時(shí)間變化來進(jìn)行測(cè)量。而這里的測(cè)量是對(duì)恒定音調(diào)擴(kuò)展來進(jìn)行測(cè)量。
對(duì)前導(dǎo)和payload中的16 μs進(jìn)行測(cè)量，得到平均頻率f0和fp（如圖8所示）。另外還需每16 μs對(duì)恒音擴(kuò)展（CTE）測(cè)量得到頻率均值（圖9所示）。
圖 8 恒音擴(kuò)展(CTE) 參考頻率 (f0, fp)
圖 9 恒音擴(kuò)展(CTE) 頻率漂移
然后，根據(jù)Payload部分的平均絕對(duì)頻移Δf1avg來計(jì)算得到fsi(=f3maxi - Δf1avg)，以判斷是否滿足：
圖 10 顯示MT8852B測(cè)量該用例的屏幕顯示。為了遵循規(guī)范，MT8852B嚴(yán)格檢測(cè)符號(hào)時(shí)序，來確保每個(gè)頻率測(cè)量位置。其方式與通常的載波頻率偏移和漂移一樣。
圖 10 載波頻率偏移和漂移測(cè)量示意圖
4.3 發(fā)射功率穩(wěn)定性（Tx Power Stability）
由于AoD傳輸使用分時(shí)來進(jìn)行天線切換，因此切換時(shí)序和響應(yīng)將對(duì)相位差值的計(jì)算產(chǎn)生影響。因此，恒音擴(kuò)展（CTE）必須以穩(wěn)定的功率等級(jí)來傳輸。此外，其在天線之間的功率變化必須很小。
如圖2所示，恒音擴(kuò)展（CTE）有3個(gè)間隔，分別稱為Reference period，Switch slot和Sample slot，用于天線切換定時(shí)。天線切換必須在切換時(shí)隙內(nèi)執(zhí)行完畢。如果天線切換超過Switch slot間隔，那么Reference period和Sample slot間隔會(huì)受到影響。
在判斷發(fā)射功率穩(wěn)定性時(shí)，測(cè)量平均功率PREF,AVE與參考周期的最大偏差范圍PREF,DEV的比值，以及參考周期和采樣時(shí)隙的平均功率Pn,AVE，還有每個(gè)時(shí)隙的最大偏差范圍Pn,DEV（其中n是每個(gè)時(shí)隙的數(shù)量）必須滿足以下條件：
· PREF,DEV/PREF,AVE < 0.25
· Pn,DEV/Pn,AVE < 0.25
圖11和12所示該測(cè)量項(xiàng)的截圖。使用MT8852B測(cè)量每個(gè)功率時(shí)，每個(gè)測(cè)量間隔的位置根據(jù)符號(hào)時(shí)序來準(zhǔn)確確定，以按照規(guī)范進(jìn)行測(cè)量。如圖12所示，Sample時(shí)隙的Pn,DEV/Pn,AVE的最壞結(jié)果值顯示在屏幕上，以便一目了然地判斷所有采樣時(shí)隙是否滿足要求。
圖 11 發(fā)射功率穩(wěn)定性測(cè)量（參考周期，時(shí)隙典型值）
