好的產(chǎn)品、成功的項(xiàng)目從市場(chǎng)調(diào)研開(kāi)始直到交付用戶(hù)，各個(gè)環(huán)節(jié)都離不開(kāi)測(cè)試，測(cè)試可以保證產(chǎn)品質(zhì)量，提升產(chǎn)品市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。一臺(tái)精準(zhǔn)的測(cè)試儀器不但可以保證測(cè)試準(zhǔn)確性，同時(shí)全面的功能也可以大幅度提高測(cè)試效率，減少不必要的成本支出。
ITECH推出的IT-M系列產(chǎn)品，包含可編程直流電源、高精度直流電源、雙向直流電源、可編程交流電源、回饋式直流電子負(fù)載和回饋式源載系統(tǒng)，共計(jì)6個(gè)系列。寬廣的選擇范圍，可以滿(mǎn)足電池、工業(yè)、半導(dǎo)體、醫(yī)療、光伏、5G通訊、3C等各個(gè)領(lǐng)域的客戶(hù)多樣性測(cè)試需求。
真相1：低紋波、高精度
產(chǎn)品測(cè)試中，工程師會(huì)擔(dān)心測(cè)試儀器精度不夠，或者是產(chǎn)生的紋波會(huì)與待測(cè)設(shè)備本身的紋波疊加，從而測(cè)試結(jié)果與實(shí)際情況有較大偏差。因此對(duì)儀器的精度和紋波都有著很高的要求。
例如在半導(dǎo)體芯片的特性測(cè)試中，就要求電源擁有較高的電流解析度、較低的紋波，以及快速的動(dòng)態(tài)響應(yīng)速度,來(lái)適應(yīng)負(fù)載的變化。IT-M3200高精度直流電源的電流回讀值分辨率可達(dá)10nA，紋波系數(shù)最低為≤ 1mV rms，動(dòng)態(tài)響應(yīng)速度最快可達(dá)≤ 50uS，讓工程師在測(cè)試過(guò)程中不用擔(dān)心測(cè)試的準(zhǔn)確性，高效的進(jìn)行測(cè)試。
真相2：CC&CV優(yōu)先權(quán)功能
IT-M3100/3200/3400/3600四款電源都具備了CC/CV優(yōu)先權(quán)功能，可以幫助用戶(hù)解決長(zhǎng)期測(cè)試中存在的多種嚴(yán)苛問(wèn)題，使需求的電源高速或者無(wú)過(guò)沖的應(yīng)用，變得更加靈活。CV優(yōu)先模式可以讓用戶(hù)在需要電壓高速的測(cè)試場(chǎng)景中獲取較快的電壓爬升速度；CC優(yōu)先模式可以讓輸出電流無(wú)過(guò)沖，用來(lái)測(cè)試恒流工作特性的待測(cè)物。適用于諸如激光器、集成電路、充放電和汽車(chē)電子的電源瞬變仿真和表征等多種測(cè)試應(yīng)用。
例如在溫升測(cè)試中，由于導(dǎo)體溫度系數(shù)是變化的，電阻值會(huì)隨著溫度變化而改變，如果只使用普通的恒壓源或電源模塊進(jìn)行供電，無(wú)法保證穩(wěn)定的溫升效果。在這種情況下，使用恒流源給連接器供電是一種更加簡(jiǎn)單可靠的測(cè)試方式。我們可以選擇CV優(yōu)先實(shí)現(xiàn)恒壓輸出，選擇CC優(yōu)先模式可以實(shí)現(xiàn)主動(dòng)恒流輸出，滿(mǎn)足測(cè)試需求。
真相3：電源/負(fù)載，無(wú)縫切換
IT-M3400雙向電源和IT-M3600回饋式源載系統(tǒng)都將雙向電源和回饋式負(fù)載功能特性集于一體。不同于傳統(tǒng)的電源和負(fù)載在正負(fù)電流切換時(shí)，中間會(huì)存在短暫的跳變和不連貫現(xiàn)象。IT-M3400和IT-M3600能夠?qū)崿F(xiàn)高速的源和載電流模式轉(zhuǎn)換，從而在輸出和吸收電流之間進(jìn)行快速連續(xù)的無(wú)縫切換，有效避免電壓或電流過(guò)沖，廣泛適用于電池、電池封裝以及電池保護(hù)板等儲(chǔ)能設(shè)備測(cè)試。
真相4：多通道，實(shí)現(xiàn)同步或比例跟蹤
IT-M系列具備靈活的多通道的設(shè)計(jì)架構(gòu)，可將同系列多臺(tái)產(chǎn)品組成多通道源載系統(tǒng)， 1個(gè)37U機(jī)柜內(nèi)就可配置64通道，最多可達(dá)258通道。工程師可以透過(guò)并聯(lián)功能測(cè)試多種不同功率的待測(cè)物，讓使用更為彈性，設(shè)備的使用率也大幅提高。此功能廣泛的應(yīng)用于產(chǎn)線生產(chǎn)測(cè)試、多路老化系統(tǒng)、集成電路測(cè)試等測(cè)試領(lǐng)域。
例如在DC-DC變換器，電池老化測(cè)試的充電部分，以及電路板等需要DC供電的產(chǎn)品在做多路一起老化測(cè)試時(shí)，就需要用到多路電源，這樣可以保證多路電源的同步性和輸出的一致性。同時(shí)在用于系統(tǒng)時(shí)，工程師的編程命令也簡(jiǎn)單很多，采用傳統(tǒng)的多臺(tái)電源進(jìn)行控制時(shí)，就需要發(fā)送多臺(tái)指令去控制每一臺(tái)電源，而M系列只需要將多臺(tái)儀器同步，發(fā)送一條控制主機(jī)的命令即可，很好的提高了測(cè)試效率和準(zhǔn)確性。
一個(gè)完美的測(cè)試不但需要成熟的測(cè)試方案，也需要優(yōu)秀的測(cè)試設(shè)備。ITECH的IT-M系列產(chǎn)品助力工程師探尋測(cè)試的真相，輕松完成測(cè)試。
