日立分析儀器（上海）有限公司于2023年6月宣布推出EA1280，這是一款用于在中國測量環(huán)境有害物質(zhì)的新型能量色散X射線熒光分析儀。

近年來，限制使用環(huán)境有害物質(zhì)已變得普遍，且成為保護環(huán)境工作的一部分。隨著RoHS/ELV指令等法規(guī)的出臺，包括制造商在內(nèi)的很多公司都被要求控制其產(chǎn)品中包含的限制物質(zhì)數(shù)量。

新型EA1280具有中國國家標準（GB標準）建議要求的檢測器分辨率，相比于Si - PIN二極管等其他半導體檢測器，其工作效率和分析準確度更高。尤其與其他分析方法相比，X射線熒光分析可提供快速、無損、簡單的元素分析，因此其持續(xù)多次用于RoHS合規(guī)性篩查中。

EA1280具有的特性

1. 使用新型高性能半導體檢測器（硅漂移檢測器（SDD）），便于提高測試工作效率和獲得更可靠結(jié)果。

2. 采用同軸光學器件進行樣品觀察和輻照X射線，便于分析各種樣品。

3. 配備易用軟件，便于操作員僅需接受簡單的質(zhì)量控制和過程控制培訓即可使用分析儀。

EA1280 技術(shù)規(guī)格

型號：EA1280

測量元素范圍：13Al～ 92U

準直器（分析光斑尺寸）：5 mmΦ（1、3 mmΦ：可選）

初級濾波器（用于優(yōu)化性能）：5種模式（4臺濾波器+關(guān)閉）自動切換

樣品艙：環(huán)境大氣

檢測器：高性能SDD

分析儀尺寸：520（寬）×600（深）×445（高）mm

重量：約69 kg

樣品艙尺寸：304（寬）×304（深）×110（高）mm

EA1280是加入日立 EA1000系列分析儀的最新型號，具備強大的分析能力，能滿足廣泛的測試要求。