?般的安規(guī)耐壓測(cè)試通常只施加高電壓及檢測(cè)漏電流，并未對(duì)局部放電(PD)進(jìn)行檢測(cè)，所以較難檢測(cè)出會(huì)發(fā)生局部放電的質(zhì)量異常品，當(dāng)這些絕緣質(zhì)量異常的產(chǎn)品實(shí)際被使用在正常的工作環(huán)境時(shí)，雖然并不會(huì)讓產(chǎn)品立即損壞或是馬上造成危險(xiǎn)，但卻會(huì)是產(chǎn)品長(zhǎng)期使用的質(zhì)量議題。若要避免發(fā)生此類的質(zhì)量議題，必須確保在最大?作電壓條件下無(wú)持續(xù)性局部放電(PD)。一般法規(guī)的建議是以最大絕緣工作電壓或最大絕緣重復(fù)峰值電壓(取電壓值較高者) 的1.875倍做為測(cè)試電壓，在測(cè)試的過(guò)程中(數(shù)秒程度)，局部放電(PD)的放電量需小于某電荷量(譬如: 5pC, 10pC, etc.)，確保產(chǎn)品?期使用的質(zhì)量與信賴性。

解決方案: Chroma 19501局部放電測(cè)試器 (Partial Discharge Tester)

Chroma 19501系列符合法規(guī)IEC 60270-1對(duì)局部放電(Partial Discharge; PD)量測(cè)的要求，并將法規(guī)之測(cè)試方法設(shè)計(jì)于儀器內(nèi)?？商峁〢C耐壓測(cè)試(Max. 10kVac)及局部放電量測(cè)(Max. 6,000pC)，能有效的檢測(cè)出絕緣質(zhì)量異常的?壓/功率組件、光耦合器、數(shù)字隔離器等，為組件?期?作的質(zhì)量與可靠性做把關(guān)。