在產(chǎn)品的研發(fā)中，如何捕獲長時(shí)間測試中信號(hào)的一個(gè)偶發(fā)異常，是工程師們經(jīng)常遇到的問題。本文將為大家提供一種新的方式，僅需一臺(tái)機(jī)器，工程師就可以對高達(dá)128路信號(hào)進(jìn)行長時(shí)間可靠性監(jiān)控測試。

傳統(tǒng)的示波器捕獲要捕獲信號(hào)的異常，一般有以下兩種常規(guī)方式。

方式1  需要工程師根據(jù)異常特性提前設(shè)定觸發(fā)條件，通過反復(fù)測試，嘗試捕獲到異常信號(hào)產(chǎn)生的波形段。這種做法會(huì)帶來以下兩個(gè)痛點(diǎn)：

1、需要在測試前明確異常產(chǎn)生的條件。例如先判斷幅度、周期時(shí)間是否可能未滿足設(shè)定值，再設(shè)定“電平觸發(fā)”或者“周期觸發(fā)”等觸發(fā)類型。因此這種方式一般用于捕獲已知的異常問題，并且需要明確異常發(fā)生的條件。

2、這種分析方式存在分析死區(qū)，在捕獲期間我們無法觀測到死區(qū)段的數(shù)據(jù)狀態(tài)，而往往未知的異常就藏在這些隱蔽的角落。

圖1 采集中的死區(qū)時(shí)間

方式2  開啟滾動(dòng)硬盤記錄，將測試期間所有的數(shù)據(jù)全部存入硬盤，待測試結(jié)束后，再對硬盤中的數(shù)據(jù)進(jìn)行反復(fù)分析。

1、優(yōu)點(diǎn)：解決采集死區(qū)的問題，畢竟已經(jīng)將所有的波形數(shù)據(jù)都存儲(chǔ)到硬盤介質(zhì)之中。

2、缺點(diǎn)：需要儀器搭載足夠大的硬盤去記錄全部數(shù)據(jù)，若對一個(gè)信號(hào)以5M Sa/s條件采集記錄，一個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)需要2字節(jié)存儲(chǔ)空間，則一個(gè)小時(shí)記錄將占用約36G硬盤空間，若通道個(gè)數(shù)較多，占用硬盤空間將成倍數(shù)增加。同時(shí)，過大的數(shù)據(jù)量同時(shí)也進(jìn)一步加大了后續(xù)的分析難度。另外采集和分析分步進(jìn)行，往往不適用于一些實(shí)時(shí)性要求較高的場合。

那是否存在第三種分析方式，既可以無死區(qū)的長時(shí)間觀測多路波形信號(hào)的同時(shí)，實(shí)時(shí)的反饋當(dāng)前監(jiān)控狀態(tài)，并且能保留異常發(fā)生的關(guān)鍵數(shù)據(jù)段的現(xiàn)場呢？

答案是肯定的，為了解決長時(shí)間異常檢測的痛點(diǎn)，ZDL6000示波記錄儀推出了功能“實(shí)時(shí)事件”。在無死區(qū)滾動(dòng)采集的同時(shí)，支持8種類型的事件判斷，同時(shí)對128個(gè)條件進(jìn)行并發(fā)監(jiān)控。若搭配8張16CH電壓采集卡，可輕松實(shí)現(xiàn)128路信號(hào)實(shí)時(shí)監(jiān)控。一旦異常產(chǎn)生，即可將異常發(fā)生點(diǎn)附近存儲(chǔ)成可回讀分析的文件。

圖2 豐富強(qiáng)大的事件功能配置

以“模板事件”為例，只需要設(shè)定周期閾值，以及容忍度判斷，就能在波形滾動(dòng)采集的過程中實(shí)時(shí)對波形按周期進(jìn)行模板比對判斷，若發(fā)現(xiàn)有畸變的波形，將會(huì)在波形上實(shí)時(shí)標(biāo)明異常，并引發(fā)事件響應(yīng)。

圖3 采集期間實(shí)時(shí)的模板事件判斷

當(dāng)采集期間有事件發(fā)生時(shí)，我們可以選擇對應(yīng)的事件響應(yīng)，如下圖所示，我們可以在異常發(fā)生的時(shí)候，同時(shí)記錄復(fù)數(shù)通道關(guān)鍵段附近50k個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)，這樣子我們就實(shí)現(xiàn)了對多路信號(hào)的長時(shí)間監(jiān)控，并且分段存儲(chǔ)局部異常數(shù)據(jù)段。從而避免后續(xù)對龐大數(shù)據(jù)的分析。

圖4 靈活的事件存儲(chǔ)響應(yīng)