GSP-9330 3.25GHz頻譜分析儀

?快速簡(jiǎn)化復(fù)雜的EMI測(cè)量與除錯(cuò)

?可明確找出輻射源的測(cè)試方案

?模擬3m/10m測(cè)試結(jié)果

?可進(jìn)行EMS模擬測(cè)試

?—鍵完成EMC測(cè)試

由于在消費(fèi)性電子產(chǎn)品速度越來越快，使得產(chǎn)生 EMI 的測(cè)試頻率越來越高，內(nèi)部組件不斷整合，密度越來越高，但是各個(gè)國(guó)家地區(qū)的 EMI 法規(guī)要求越來越嚴(yán)，而產(chǎn)品生命周期越來越短，因此，如何在開發(fā)階段能有效快速地解決 EMI 的問題，減少產(chǎn)品在往返認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室的測(cè)試次數(shù)與時(shí)間，一套簡(jiǎn)單好用的工具可以協(xié)助工程師迅速的發(fā)現(xiàn) EMI 的來源，大幅加速上市的時(shí)間(time to market)。

固緯電子推出最新專利設(shè)計(jì)的 GKT-008 電磁場(chǎng)感應(yīng)探棒，體積小，感度高，可直接感測(cè) EMI信號(hào)能量，不必像一般傳統(tǒng)近場(chǎng)探棒要分別使用電場(chǎng)和磁場(chǎng)探棒去量測(cè)電場(chǎng)和磁場(chǎng)… 因此用戶可以節(jié)省產(chǎn)品的開發(fā)周期和認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室的費(fèi)用，有助于加快產(chǎn)品進(jìn)入認(rèn)證階段及上市時(shí)間。