（2）測(cè)試步驟

1）將基站配置為T(mén)M1.1狀態(tài)，輸出功率為20 W=43 dBm；

2）R&S頻譜儀FSW重置，設(shè)置MEASàSPURIOUS EMISSIONàSWEEP LISTàEDIT SWEEP LIST；

3）設(shè)置RMS方式；

4）頻譜儀設(shè)置頻點(diǎn)，以E UTRA band39為例，頻段為1 880 MHz—1920 MHz，結(jié)果如圖5所示；

5）設(shè)置RBW=100 kHz，VBW=300 kHz；

6）設(shè)置Sweep Time，Detect Mode進(jìn)行測(cè)試。

其他測(cè)試雜散發(fā)射測(cè)試的基站類(lèi)型只需重復(fù)上述步驟即可，最后的測(cè)試結(jié)果如表3所示：

圖5    雜散發(fā)射測(cè)試結(jié)果

表3    TD-LTE Band40共址雜散發(fā)射測(cè)試結(jié)果

（3）測(cè)試結(jié)果分析

根據(jù)移動(dòng)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)3GPP TS 36.104以Band40為例，基于傳統(tǒng)的共址雜散測(cè)試方案，探討了一種新型的共址雜散測(cè)試方案，采用了雙工器和低噪放相結(jié)合的方法。在此方案中，雙工器的主要作用是將載波信號(hào)和雜散發(fā)射區(qū)分開(kāi)來(lái)，解決頻譜儀的動(dòng)態(tài)范圍不足的問(wèn)題。低噪放的主要作用是提高雜散發(fā)射電平，解決了頻譜儀底噪過(guò)高的問(wèn)題。通過(guò)解決以上兩個(gè)關(guān)鍵問(wèn)題，實(shí)現(xiàn)了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性，從表3的測(cè)試結(jié)果可以看出，在測(cè)試帶寬100 kHz的條件下共址雜散發(fā)射的結(jié)果優(yōu)于-102 dBm，滿(mǎn)足測(cè)試要求。系統(tǒng)達(dá)到設(shè)計(jì)目標(biāo)，完成了雜散發(fā)射的測(cè)試任務(wù)。

3   結(jié)束語(yǔ)

本文探討了一種新型的共址雜散測(cè)試方案，改進(jìn)了頻譜儀動(dòng)態(tài)范圍有限和底噪過(guò)高的問(wèn)題，最后的測(cè)試結(jié)果符合3GPP測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。同時(shí)通過(guò)集成與Labview相結(jié)合，可實(shí)現(xiàn)雜散發(fā)射的自動(dòng)化測(cè)量，在實(shí)際應(yīng)用中前景廣闊。

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