再考慮9 dB的載波聚合因子，最終動態(tài)范圍為150 dBc，加上測試余量，這就要求頻譜儀的動態(tài)范圍要達到150 dBc以上才能滿足測試要求。同時為了實現(xiàn)雜散發(fā)射的低電平測試，要求頻譜儀的靈敏度即底噪水平應(yīng)優(yōu)于：-107 dBm/100 kHz=-157 dBm/Hz。

考慮到路徑損耗和測量余量，在實際測試中頻譜儀靈敏度應(yīng)大于-170 dBm/Hz。如果利用傳統(tǒng)測試方案，就目前的頻譜儀性能水平來說，很難實現(xiàn)對共址雜散發(fā)射的準確測量。

2.2  新型雜散測試方案

（1）測試原理

鑒于上述情況，為了解決頻譜儀動態(tài)范圍和靈敏度不足的問題，本文提出了一種新型的測試方案。本方案采用如圖2所示的吸收法：即利用雙工器將濾波器的載波信號通過負載吸收，解決測試過程中頻譜儀動態(tài)范圍不足的問題。同時LNA提高了雜散發(fā)射電平，使其位于頻譜儀的底噪之上，解決測試過程中頻譜儀靈敏度不足的問題。

圖2    雜散發(fā)射新型測試方案

整個測試方案的關(guān)鍵器件是雙工器，采用CREOWAVE高性能雙工器，頻率范圍覆蓋2 GHz—4 GHz，其性能指標如表2所示：

表2    CREOWAVE高性能雙工器性能指標

在圖2所示方案中，TD-LTE基站發(fā)射的信號，用傳輸測試法將天線口連接射頻同軸線，然后通過CREOWAVE高性能雙工器，其技術(shù)指標如表2所示。雙工器將輸出信號一分為二，對于B路帶通濾波器2（Pass band2）來說，所經(jīng)信號最后由負載吸收，不需要被測試。由于雙工器是共址雜散發(fā)射測試鏈路的一部分，低互調(diào)指標（IM3：-150 dBc）也是需要考慮的因素。對于A路帶通濾波器1（Pass Band1）來說，載波信號Band 40（2 300 MHz—2 400 MHz）經(jīng)過-80 dBc抑制后經(jīng)Microcomp Nordic高性能LNA（0.1 GHz—6 GHz，28 dB增益）低噪放再由頻譜分析儀測試（路徑特性曲線如圖3所示），此時大功率電平為：43 dBm-4 dB-80 dB+28 dB=-13 dBm。

而頻譜儀動態(tài)范圍需求為：-13 dBm-（-98 dBm）=85 dBc，處于頻譜儀的測試動態(tài)范圍內(nèi)，頻譜儀動態(tài)范圍不足的問題得以解決。

圖3    A路路徑特性曲線

接下來需要考慮的是頻譜分析儀的靈敏度能否滿足共址雜散發(fā)射的測試要求。將推算雜散發(fā)射在鏈路（A路）上的信號電平。

本文中選用的頻譜儀是羅德與施瓦茨R&S FSW26，根據(jù)其性能指標，底噪在頻率范圍（1 GHz—3 GHz）：DANL-154 dBm/Hz，typ.-159 dBm。

歸一化底噪轉(zhuǎn)化為-109 dBm/100 kHz，考慮雙工器4 dB插損和1 dB線損和低噪放增益為28 dB，則系統(tǒng)可以測到的底噪為-109 dBm/100 kHz+5 dB-28 dB=-132 dBm/100 kHz，具體如圖4所示。

雜散輻射測試在載波聚合情況下最高電平要求是-107 dBm/100 kHz，同時保證頻譜儀底噪比測試電平低20 dB的測試余量。-132 dBm大于測試要求：-127 dBm=-107 dBm-20 dB，所以測試方案滿足測試需求。

圖4    頻譜儀底噪