對于加硬件門情況的測試結(jié)果，通過圖8可以看到，整體曲線同理論值是比較接近的，只是由于硬件的限制（脈沖調(diào)制器的脈寬無法做到比較窄），使得硬件門的脈沖寬度比較寬，門內(nèi)部還存在著一些干擾無法濾除，導(dǎo)致頻域曲線上有較多的起伏。從總體上看，硬件門的效果較好，能夠避免軟件門處理技術(shù)所引起的一些誤差。但是對于脈沖RCS測試系統(tǒng)，有一個不利的因素是：為了去除場地干擾，要求脈沖占空比通常比較小（脈沖周期要求設(shè)置比較長以覆蓋場地尺寸，脈沖寬度要設(shè)置的比較小以盡可能的濾除目標(biāo)區(qū)域外的干擾），平均功率很低，對于窄帶接收系統(tǒng)，由于脈沖退敏效應(yīng)的影響使系統(tǒng)動態(tài)范圍以10log(占空比)減小，降低了系統(tǒng)的測量能力。
5 結(jié)束語
由于硬件門在干擾去除上的技術(shù)優(yōu)勢，當(dāng)前基于硬件門的脈沖RCS測試技術(shù)得到了較為廣泛的應(yīng)用。同時，針對硬件門在窄脈沖能力方面存在的不足，目前在很多場合都將硬件門同軟件門結(jié)合起來使用，并獲得了較好的效果。隨著硬件技術(shù)的發(fā)展，目前具有納秒量級脈沖寬度、超寬帶中頻采集處理能力的高性能脈沖RCS測試系統(tǒng)也在RCS測試中得到了應(yīng)用，并提供了更好的干擾去除及小RCS測試能力。
