根據(jù)上面RCS測試的簡單流程可以看出，由于RCS測試是利用空間電磁輻射并測量目標回波的方式來實現(xiàn)的，是開環(huán)測試方式，因此測試場地的環(huán)境特征將不可避免的反映在接收回波信號中。具體到測試場地中，如圖2所示（以典型室內(nèi)緊縮場為例），回波信號將包括：收發(fā)天線之間的直接耦合，反射面的反射信號直接到達接收天線部分、反射面反射信號經(jīng)饋源再反射的多次反射情況、目標回波、后墻反射等多個反射信號。

對于低RCS值目標的測試，由于目標的回波信號本來就很小，因此測試場地中存在的各種干擾信號將有可能比目標回波信號還要大，這些干擾信號使得目標回波的信噪比顯著惡化，如圖3中所示，隨著信噪比的變差，測量誤差也隨之增加；信噪比越大，對應(yīng)的測量誤差就越小。因此，對于小RCS值目標來說，必須要考慮各種減輕或消除干擾的辦法。

3  RCS測試中硬件門應(yīng)用原理

為了消除RCS測試過程中各種路徑干擾，目前新推出的RCS測試系統(tǒng)中普遍采用了脈沖RCS測試技術(shù)，其測試原理如圖4所示。對比圖1和圖4可以看出，系統(tǒng)硬件上的主要區(qū)別是增加了多通道脈沖發(fā)生器和窄脈沖調(diào)制器（門控開關(guān)），這些硬件共同構(gòu)成了硬件門電路。利用這些硬件，系統(tǒng)就可以由連續(xù)波測試系統(tǒng)轉(zhuǎn)變?yōu)槊}沖測試系統(tǒng)。