簡介
本文提供了使用基于PXI的Marvin數字子系統(tǒng)替換Trendar / Fluke 3050B數字子系統(tǒng)的方法。該方法僅針對Fluke 3050B的數字測試功能的一部分，參考文檔基于1983年2月的3050B數字/模擬測試系統(tǒng)手冊（Rev. 1,2 / 8）獲得的信息。
背景
Fluke 3050B測試系統(tǒng)為PCBA提供自動數字和模擬的功能測試。通過連接器適配器與UUT連接，該連接器適配器連接到（4）156針ZIF連接器。圖1為系統(tǒng)圖片。
圖1：Fluke 3050B系統(tǒng)
3050B具有兩種pass/fail測試模式 - 比較模式和簽名模式。比較模式通過比較已確定為良好的UUT和被測UUT之間的數字刺激響應來實現(xiàn)；將I/O引腳狀態(tài)，電路板的IC夾具和邏輯探針逐步進行比較。簽名模式僅使用單個板，并且通過將UUT的I/O引腳生成的CRC（循環(huán)冗余校驗）簽名與先前測試的已知良好板的簽名進行比較，實現(xiàn)pass/fail決策。
3050B還包括使用稱為ADS環(huán)境進行故障診斷，該環(huán)境是一種引導探測算法，可以根據UUT原理圖，拓撲和組件進行故障診斷。ADS執(zhí)行診斷所需的輸入包括：
IC類型和位置文件
IC類型定義文件
優(yōu)先級節(jié)點文件（可選）
從 - 到互連文件
板邊優(yōu)先文件（可選）
標簽文件（用于文檔）
3050B提供了兩個探測器，用于監(jiān)視/比較UUT上的節(jié)點。探頭邏輯閾值可選擇1 V，2 V，5 V，7 V或可變（-10至+10 V）。IC夾（16針）的使用具有類似的特性，可變范圍為0至+10V
3050B數字子系統(tǒng)的主要功能總結如下：
最多240個I / O引腳，以32引腳為增量; 基本配置是64針
低電平驅動器輸出小于或等于0.7 V @ 10 mA
高電平驅動器輸出可通過連接器適配器中的跳線,進行編程選擇（輸出范圍見圖2）
驅動器測試速率：1 MHz，（某些模式下為2 MHz）
接收器閾值范圍：基于驅動器電壓電平的1.8 V至3.5 V（見圖3）
存儲序列：最多2048 bits
測試長度：可編程為20K，40K，100K，200K，400K，1M，2M，4M，10M，20M，40M
測試儀時鐘頻率：可編程為1 Hz至9.99 MHz的3位數字
圖2：輸出驅動器范圍
圖3：接收器閾值范圍
序列執(zhí)行包括以下功能：
