講座內(nèi)容簡(jiǎn)介
測(cè)試是太赫茲技術(shù)發(fā)展的重要保障條件之一。隨著太赫茲技術(shù)研究不斷深入及應(yīng)用不斷拓展，對(duì)測(cè)試提出了更高要求——一是頻率不斷擴(kuò)展、性能不斷提高、平臺(tái)體系不斷完善；二是要求測(cè)試更準(zhǔn)確、更穩(wěn)定、更高效及更便捷。
本期講座圍繞太赫茲技術(shù)研究和應(yīng)用開(kāi)發(fā)的測(cè)試需求，成體系介紹了技術(shù)進(jìn)展情況，成體系架構(gòu)了太赫茲測(cè)試解決方案，并給出了應(yīng)用示范。
講座嘉賓
鄧建欽
研究員、博士、中國(guó)電子科技集團(tuán)有限公司首席專家
講座時(shí)間
2022年11月4日（周五） 15：00-16：00
講座預(yù)約
活動(dòng)三重“福利”
1.幸運(yùn)觀眾獎(jiǎng)：講座中抽取幸運(yùn)觀眾10位。
2.最佳互動(dòng)獎(jiǎng)：講座中最佳互動(dòng)觀眾5位。
