對(duì)于IED的基本要求
對(duì)于TEST模式的應(yīng)用，保護(hù)裝置、合并單元、智能終端必須支持TEST模式，具體包括Mod=ON、Mod=Test-Blocked等模式;各模式下裝置的行為符合IEC 61850標(biāo)準(zhǔn)的要求。
功能的規(guī)范化描述
測(cè)試是針對(duì)“功能”，首先必須對(duì)“功能”有規(guī)范化的定義。對(duì)“功能”的抽象、歸納、規(guī)范化描述是IEC 61850的基礎(chǔ)。IEC 61850標(biāo)準(zhǔn)定義了變電站自動(dòng)化“系統(tǒng)”由若干“功能”(如保護(hù)、測(cè)量、控制等)構(gòu)成，“功能”可以進(jìn)一步劃分為若干子功能，直至“邏輯節(jié)點(diǎn)”，“邏輯節(jié)點(diǎn)”代表可以交換數(shù)據(jù)的最小功能單元，見下圖。
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