柯泰測(cè)試系統(tǒng)中提供的通用驅(qū)動(dòng)板需要通過(guò)細(xì)致調(diào)諧方可和被測(cè)件配合得到最佳TR/TF結(jié)果?？绿y(cè)試提供了KTS-TRTF-A01自動(dòng)測(cè)試軟件可完成這個(gè)細(xì)膩而繁瑣的工作?；趯?duì)測(cè)試儀器的專(zhuān)業(yè)理解和測(cè)試方法的深入分析，柯泰選擇最佳的儀表組合，并輔以細(xì)致的觸發(fā)方式、采樣方式和測(cè)量參數(shù)設(shè)置，讓用戶(hù)僅需提供工作點(diǎn)相關(guān)掃描范圍，軟件即可將最佳工作點(diǎn)推薦值以列表方式呈現(xiàn)。

DTOF系統(tǒng)的VCSEL窄脈沖LIV和近遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試

柯泰測(cè)試結(jié)合產(chǎn)業(yè)界需求和自身知識(shí)經(jīng)驗(yàn)，推出了指標(biāo)領(lǐng)先的窄脈沖測(cè)試方案，覆蓋窄脈沖LIV、近場(chǎng)光學(xué)測(cè)試和遠(yuǎn)場(chǎng)光學(xué)測(cè)試。這一系統(tǒng)的主要目標(biāo)場(chǎng)景包括：

■ VCSEL芯片性能評(píng)估和壓力測(cè)試

■ 陣列模組封裝測(cè)試

■ 3D傳感模組研發(fā)

■ 3D傳感系統(tǒng)廠商來(lái)料檢測(cè)和故障分析

圖3. 窄脈沖LIV壓力測(cè)試示例

圖4. 近場(chǎng)測(cè)試

圖5. 遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試

測(cè)試系統(tǒng)的主要特點(diǎn)

■ 使用定制的測(cè)試治具，實(shí)現(xiàn)非破壞性的快速測(cè)試；

■ 使用通用測(cè)試儀器，測(cè)試條件可控性和重復(fù)性?xún)?yōu)于傳統(tǒng)定制系統(tǒng)，系統(tǒng)中的儀器亦可在其它測(cè)試中使用，通用性好；

■ 集成測(cè)試臺(tái)，提高系統(tǒng)搭建效率；

■ 一鍵式自動(dòng)化測(cè)試軟件，自動(dòng)掃描工作點(diǎn)，提高工作效率；

■ 可根據(jù)需要替換測(cè)試系統(tǒng)組件，從而實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試要求。