開關(guān)損耗
開關(guān)損耗指的是總體的能量損耗，由導(dǎo)通過程損耗、關(guān)閉過程損耗、導(dǎo)通損耗組成，使用下面公式計算：
開關(guān)損耗分析插件
高端示波器通常亦集成了開關(guān)損耗分析插件，由于導(dǎo)通狀態(tài)電壓測量不準(zhǔn)確，所以導(dǎo)通狀態(tài)的計算公式是可以修改的，主要有三種：
UI，U和I均為測量值；
I2R，I為測量值，R為導(dǎo)通電阻，由用戶輸入Rds(on)；
UceI，I為測量值，Uce為用戶輸入的電壓值，用于彌補電壓電壓測不準(zhǔn)的問題。
一般建議使用I2R的公式，下圖是ZDS4000 Plus的開關(guān)損耗測試圖。
圖4 開關(guān)損耗測試結(jié)果圖
總結(jié)
開關(guān)損耗測試對于器件評估非常關(guān)鍵，通過專業(yè)的電源分析插件，可以快速有效的對器件的功率損耗進行評估，相對于手動分析來說，更加簡單方便。對于MOSFET來說，I2R的導(dǎo)通損耗計算公式是最好的選擇。
