相位噪聲描述的是振蕩器的頻率穩(wěn)定性，會(huì)導(dǎo)致誤差矢量信號(hào)的相位分量出現(xiàn)誤差。信號(hào)分析儀的相位噪聲是造成EVM測(cè)量誤差的原因之一。為了獲得信號(hào)分析儀的最佳相位噪聲性能以進(jìn)行調(diào)制分析，不僅要考慮信號(hào)分析儀的相位噪聲曲線(近端和寬頻偏)，還要考慮輸入信號(hào)的工作頻率、帶寬和子載波間隔(OFDM 信號(hào))。
針對(duì)不同的操作條件，選擇特定的 LO相噪模式
信號(hào)分析儀本振信號(hào)的相位噪聲會(huì)轉(zhuǎn)換為信號(hào)分析儀混頻器的輸入。相位噪聲對(duì)IQ星座圖的直接影響是產(chǎn)生符號(hào)的徑向拖尾。在使用高階調(diào)制方案時(shí)，星座點(diǎn)距離更小，對(duì)EVM性能的要求也更高，應(yīng)確保信號(hào)分析儀的相位噪聲性能不會(huì)影響 EVM 測(cè)量結(jié)果，不讓信號(hào)分析儀的相位噪聲成為制約 EVM 測(cè)量的瓶頸。
