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多種頻帶的混合信號測試解決方案


  來源: 電子發(fā)燒友 時間:2019-01-09 編輯:思楊
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隨著數(shù)字化浪潮的深入,具有混合信號功能的芯片越來越多地出現(xiàn)在人們的生活中。通訊領(lǐng)域的MODEM(如ADSL),CODEC和飛速發(fā)展的手機芯片,視頻處理器領(lǐng)域的MPEG,DVD 芯片,都是具有混合信號功能的芯片,其特點是處理速度高、覆蓋的頻率范圍寬,芯片的升級換代周期日益縮短。這就要求測試系統(tǒng)具有更高的性能和更寬的頻帶范圍,而且需要靈活的架構(gòu)來應(yīng)對不斷升級的芯片測試需求,以便有效降低新器件的測試成本。此外,混合信號芯片種類繁多,各種具有混合信號的芯片已經(jīng)廣泛運用到生產(chǎn)和生活的各個領(lǐng)域,而不同的應(yīng)用領(lǐng)域,其工作的頻率和所要求的精度也各不相同,這就要求在對混合信號進(jìn)行測試時,抓住其共性來提出測試方案。所有混合信號芯片的一個最基本的共性就是其內(nèi)部均具有AD/DA,一些混合信號芯片還包括PLL模塊。本文所論述的混合信號測試僅涉及到ADC和DAC通路。

一般,對于ADC通路,測試系統(tǒng)需要通過波形發(fā)生器產(chǎn)生適當(dāng)?shù)募钚盘?,同時,通過自身的數(shù)字通道采集ADC的輸出信號并進(jìn)行運算以獲得測試結(jié)果;對于DAC通路,測試系統(tǒng)需要通過數(shù)字通道產(chǎn)生適當(dāng)?shù)募钚盘?,同時,通過自身的波形采樣器采集DAC的輸出信號并進(jìn)行運算獲得測試結(jié)果。但無論對于 ADC還是DAC測試,都要求系統(tǒng)的模擬模塊,即波形發(fā)生器和波形采樣器,與系統(tǒng)的數(shù)字通道同步,才能確保測試的準(zhǔn)確性。此外,系統(tǒng)還需提供豐富的內(nèi)置函數(shù),迅速完成對采集信號的運算,才能實現(xiàn)對ADC/DAC的靜態(tài)和動態(tài)特性的測試。因此,在對混合信號芯片的測試過程中,一般需要數(shù)字通道、波形發(fā)生器、波形分析器、直流電源、時隙分析器、系統(tǒng)時鐘等模塊,其中波形發(fā)生器和波形分析器是決定系統(tǒng)速度和精度的關(guān)鍵環(huán)節(jié),本文分別在這兩個方面做較詳盡的論述。


傳統(tǒng)測試方法面臨的挑戰(zhàn)

傳統(tǒng)的基于純軟件的測試方法已經(jīng)難于應(yīng)對新型混合信號器件的測試需求,對于混合信號器件,通常要通過測試其互調(diào)失真(IMD)、多音頻功率比率 (MTPR)等參數(shù),以獲得器件的非線性特性,測試這些參數(shù),需要采集大量的數(shù)據(jù),并進(jìn)行大量的運算,傳統(tǒng)的測試儀器通常采用基于軟件的方法在主機中實現(xiàn),其缺點在于,一方面限制了運算速度的提高;另一方面,主機和測試臺之間存在大量的數(shù)據(jù)交互,容易造成總線沖突,因而測試效率不高。針對這個情況,一種切實可行的方案是在測試系統(tǒng)前端建立本地儀器子系統(tǒng),將原來基于軟件的信號處理庫移植到本地處理器中來完成,儀器子系統(tǒng)集成信號產(chǎn)生和采集的功能,并采用高速DSP進(jìn)行大量的數(shù)學(xué)運算,以減少主機處理的時間,消除總線沖突。而且前端子系統(tǒng)與被測器件(DUT)間結(jié)構(gòu)緊湊,可以取得很高的時鐘頻率,便于靈活地處理多種測試問題,例如,在傳統(tǒng)測試系統(tǒng)中,要產(chǎn)生具有ADSL測試所需的動態(tài)范圍的音頻很困難,現(xiàn)在,使用基于DSP的任意波形發(fā)生器,這一任務(wù)就變得非常容易。這里最新研制的BC3192V50數(shù)模混合集成電路測試系統(tǒng)基于VXI總線設(shè)計,其最大優(yōu)點是軟件和硬件都具有開放性和標(biāo)準(zhǔn)化的結(jié)構(gòu),這種結(jié)構(gòu)允許開發(fā)新的模塊和子系統(tǒng)來加強系統(tǒng)的測試能力,以滿足高速發(fā)展的集成電路產(chǎn)業(yè)的測試需求,針對多頻帶混合信號IC的測試需要,利用基于DSP的測試系統(tǒng)實現(xiàn)復(fù)雜的多頻帶混合信號芯片測試。


國內(nèi)外混合信號測試現(xiàn)狀

近幾年,國內(nèi)外的測試行業(yè)都緊隨著IT技術(shù)的發(fā)展步伐,不斷地研究新器件的測試方法,開發(fā)、更新測試儀器,以適應(yīng)市場的需要。

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