傳輸頻率誤差：通道中心頻率與頻譜儀中心頻率之差，差值為-13Hz。

信道功率：

測(cè)量積分帶寬500Hz內(nèi)的功率，為-59.84dBm，同時(shí)將積分帶寬內(nèi)的功率歸一化到1Hz得到功率譜密度數(shù)值為-86.83dBm/Hz。

頻譜監(jiān)測(cè)：

用色溫表示頻譜的能量

另外，SSA3000X系列頻譜儀還可測(cè)量三階交調(diào)、時(shí)域功率、鄰道功率比等，由于此為低頻讀寫模塊，測(cè)試較為簡(jiǎn)單，暫不做上述分析。

示波器解碼：

使用ID卡對(duì)讀寫模塊進(jìn)行測(cè)試，當(dāng)ID卡在讀寫模塊天線處被感應(yīng)時(shí)，讀寫模塊收到信號(hào)，會(huì)從蜂鳴器、LED燈和TXD管腳分別輸出信號(hào)。

用SDS1204X-E示波器標(biāo)配的串行總線解碼功能對(duì)TXD輸出TTL-RS232信號(hào)進(jìn)行解碼。

解碼設(shè)置：

波特率9600bps，無校檢位，數(shù)據(jù)8位，1停止位，空閑電平為高電平，比特流格式LSB，解碼輸出ASCII碼。

解碼輸出10位卡號(hào)為1400903AA9。

用多個(gè)ID卡測(cè)試，發(fā)現(xiàn)此讀寫模塊輸出正常：

但是由于此讀寫模塊工作頻段為低頻，射頻輸出功率小，檢測(cè)ID卡的距離十分有限，約只有五厘米。

測(cè)試總結(jié)：

以上就是關(guān)于低頻RFID的簡(jiǎn)單測(cè)試流程。低頻RFID主要應(yīng)用于低端技術(shù)范圍內(nèi)，技術(shù)要求和測(cè)試流程相對(duì)簡(jiǎn)單。高頻和超高頻RFID測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)更加注重信號(hào)質(zhì)量，即需要對(duì)信號(hào)進(jìn)行IQ解調(diào)曲線和數(shù)據(jù)分析，ASK/FSK解調(diào)分析等。