圖2 中國電科XX所應(yīng)用測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)
圖2所示為中國電科XX研究所“北斗二代導(dǎo)航”宇航級(jí)關(guān)鍵微波部件檢測(cè)的應(yīng)用現(xiàn)場(chǎng)，中電儀器的微放電效應(yīng)檢測(cè)系統(tǒng)為該單位的多型號(hào)、多批次宇航級(jí)關(guān)鍵微波部件的試驗(yàn)檢測(cè)提供有力的技術(shù)保障，該單位的相關(guān)宇航級(jí)關(guān)鍵微波部件已經(jīng)在“北斗二號(hào)”、“北斗三號(hào)”的相應(yīng)導(dǎo)航衛(wèi)星上得到成功應(yīng)用。
圖3 中國電科X所和中國電科XX所應(yīng)用測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)
圖3所示為中國電科X所和中國電科XX所“北斗二代導(dǎo)航”任務(wù)載荷試驗(yàn)檢測(cè)的應(yīng)用現(xiàn)場(chǎng)，中電儀器的微放電效應(yīng)檢測(cè)系統(tǒng)為兩家單位的多型號(hào)、多批次任務(wù)載荷歸零分析、試驗(yàn)檢測(cè)提供有力的技術(shù)保障，相關(guān)任務(wù)載荷已經(jīng)在“北斗二號(hào)”、“北斗三號(hào)”的相應(yīng)導(dǎo)航衛(wèi)星上得到成功應(yīng)用。
