測(cè)試系統(tǒng)平臺(tái)軟件是一個(gè)通用的、開放的、可擴(kuò)展的測(cè)試平臺(tái)，為不同的測(cè)試程序開發(fā)環(huán)境提供相對(duì)應(yīng)的適配器，使得通用測(cè)試平臺(tái)可以運(yùn)行不同開發(fā)環(huán)境下開發(fā)的測(cè)試程序，這些開發(fā)環(huán)境包括LabView、LabWindows/CVI、Visual C++等。同時(shí)，測(cè)試平臺(tái)還對(duì)外提供了COM接口和API接口，測(cè)試程序可以通過(guò)這些接口與測(cè)試平臺(tái)進(jìn)行交互，從測(cè)試平臺(tái)中獲取相關(guān)測(cè)試配置和測(cè)試屬性等。
提供電路板故障診斷領(lǐng)域完整工具集合，降低了開發(fā)難度
故障診斷系統(tǒng)軟件還提供了完整的電路板故障診斷工具集合，包括：
● IEEE1445后處理程序
●數(shù)字電路故障診斷插件
●探筆引導(dǎo)診斷軟件
● PCB圖形顯示及定位工具
●探筆數(shù)據(jù)庫(kù)編輯器
●神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)板級(jí)電路板故障診斷軟件
●專家知識(shí)診斷插件
●多種模擬測(cè)試插件
這些工具能有效的減少測(cè)試程序的開發(fā)難度，提高測(cè)試程序的開發(fā)速度。
支持IEEE1445國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)字測(cè)試交換格式
