圖2：BLE DUT的典型誤包率(PER)曲線。

圖 2 所示為BLE設(shè)備的傳統(tǒng)PER曲線。PER曲線對曲線50%點處的射頻電平變化最為敏感，因此快速PER算法會搜索此50%點。在射頻電平變動期間，大多數(shù)的數(shù)據(jù)包在接近50%點的射頻電平下發(fā)送；由于算法在此50%區(qū)域上收斂，因此，射頻電平步長也會調(diào)整為更小值。這種DUT接收機靈敏度測量方法具有很好的準(zhǔn)確和可重復(fù)性，并且需要的數(shù)據(jù)包數(shù)量很少，與在一系列不同射頻電平下使用大量數(shù)據(jù)包的傳統(tǒng)蠻力PER掃描方法相比，所需數(shù)據(jù)包數(shù)不足其 5%。

總結(jié)

射頻設(shè)計人員需要使用最終設(shè)計來驗證可交付產(chǎn)品的性能，而不能僅僅依賴于板級測量，板級測量測得的射頻性能可能與成品的真實情況存在很大偏差。在制造過程中，測試工程師通常無法使用板級射頻和數(shù)字連接，因此他們需要使用無線式的快捷測試方法來獲得準(zhǔn)確且可重復(fù)的結(jié)果。 OTA BLE測試解決方案可以幫助技術(shù)人員有效解決在測量中的這些關(guān)鍵挑戰(zhàn)。借助這些系統(tǒng)，工程師可以構(gòu)建更好的設(shè)計，同時制造商也可以使用參數(shù)化數(shù)據(jù)來驗證制造質(zhì)量。 對于BLE設(shè)備而言，一旦無法獲得良好的無線通信，設(shè)備將無法正常運轉(zhuǎn)，因此無線性能顯得至關(guān)重要。如今，這些BLE OTA測試解決方案將有助于相關(guān)人員設(shè)計出更優(yōu)秀的產(chǎn)品，同時幫助制造商制造出符合要求的產(chǎn)品。