在照明行業(yè)中，在測(cè)試9KHz-30MHz波段的EMI中有兩種方法，一種是采用Antenna（天線）和EMI接收機(jī)，其依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)是CISPR15，EN55015，GB17743。對(duì)于照明燈具可能產(chǎn)生的低頻磁場(chǎng)設(shè)備，需要采用CISPR16-1-4規(guī)定的三環(huán)天線測(cè)量其低頻磁場(chǎng)輻射騷擾。主要是由三環(huán)天線和EMI接收機(jī)進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試時(shí)需在屏蔽室室內(nèi)進(jìn)行。注：三環(huán)天線將X方向，Y方向和Z方向低頻磁場(chǎng)分量轉(zhuǎn)化為RF信號(hào)，并通過同軸開關(guān)三個(gè)通道輸送到EMI接收機(jī)進(jìn)行測(cè)量；另外一種是采用LISN測(cè)試方法，測(cè)試時(shí)需要由EMI接收機(jī)+人工電源網(wǎng)絡(luò)+LISN和測(cè)試軟件進(jìn)行。傳導(dǎo)騷擾測(cè)試系統(tǒng)用于測(cè)量燈和燈具照明設(shè)備在正常工作狀態(tài)下電源端口產(chǎn)生的騷擾，LISN實(shí)現(xiàn)RF信號(hào)的隔離，采樣，阻抗匹配，并為EUT提供電通道，EMI接收機(jī)對(duì)RF信號(hào)進(jìn)行測(cè)量，并最終由EMI測(cè)試軟件進(jìn)行分析，處理和判限。測(cè)試時(shí)需在屏蔽室進(jìn)行。

與此同時(shí)，在9KHz-300MHz波段的EMI測(cè)試中采用的是CDN法。在CISPR15，EN55015和GB17743標(biāo)準(zhǔn)中還提供另外一種照明設(shè)備的輻射電場(chǎng)騷擾測(cè)試方法，即CDN共模端子電壓法。采用CDN法，主要包括EMI接收機(jī)，CDN和衰減器。測(cè)試時(shí)可以在屏蔽室內(nèi)進(jìn)行。

根據(jù)相關(guān)基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)如CISPR16，力汕研發(fā)生產(chǎn)了兩款EMI測(cè)試設(shè)備，而針對(duì)傳統(tǒng)及新型照明行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，兩款設(shè)備的掃描頻率各不同， EMI-9KB EMI掃描頻率為9KHz~300MHz，適合LED及傳統(tǒng)照明設(shè)備的檢測(cè)； EMI-9KA EMI掃描頻率為9KHz~30MHz則主要適合傳統(tǒng)照明設(shè)備的檢測(cè)。而判定被測(cè)物是否符合標(biāo)準(zhǔn)，我們引用了峰值，準(zhǔn)峰值和平均值三個(gè)值來判定，考慮到不同標(biāo)準(zhǔn)的差異，軟件可直接調(diào)用GB17743、FCC、EN55015、GB4343等判定標(biāo)準(zhǔn)。

2.2、靜電放電

LED屬于半導(dǎo)體器件，在LED制造、裝配、運(yùn)輸、存儲(chǔ)、使用各階段中，生產(chǎn)設(shè)備、材料、和操作者都可能給LED帶來靜電損失，導(dǎo)致LED過早出現(xiàn)漏電流增大、光衰加重，甚至“死燈”現(xiàn)象。靜電放電對(duì)LED的電光參數(shù)包括反向漏電流、正向I-V特性、光通量均會(huì)造成一定程度的劣化。靜電放電是影響LED及LED照明產(chǎn)品可靠性的重要因素之一。

LED是LED照明產(chǎn)品的關(guān)鍵材料。對(duì)于LED的靜電放電抗擾度測(cè)試，應(yīng)遵循相關(guān)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)如美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)ANSI/ESD STM5.1、ANSI/ESD STM5.2，國(guó)際電子電工協(xié)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)JESD22-A114D、JESD22-A115-A，美國(guó)軍方標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-883等。上海力汕電子科技研發(fā)的的ESD61000-2靜電放電發(fā)生器專門針對(duì)LED靜電敏感等級(jí)判定要求及特點(diǎn)而設(shè)計(jì)，采用機(jī)器模式（MM）及人體模式（HBM）靜電放電試驗(yàn)，靜電放電電壓最高可達(dá)30KV；LED電壓、電流測(cè)量準(zhǔn)確度可達(dá)0.2%；LED正向電壓分辨率1mV；反向漏電流分辨率0.01μA。對(duì)于LED照明產(chǎn)品而言，其整體的靜電放電抗擾度測(cè)試須按照GB/T 17626.2/IEC61000-4-2進(jìn)行。接觸放電是首選的測(cè)試方法，對(duì)LED照明產(chǎn)品機(jī)殼上每個(gè)可觸及的金屬部件（不包括接線端）進(jìn)行20次連續(xù)放電，正負(fù)極性各10次。在無法進(jìn)行接觸放電的部位可使用空氣放電。間接放電應(yīng)根據(jù)GB/T17626.2的規(guī)定施加于水平或垂直耦合板上。為確保測(cè)試結(jié)果的重復(fù)性和一致性，靜電放電試驗(yàn)必須按照GB/T17626.2第7章節(jié)內(nèi)容規(guī)范布置。ESD61000-2靜電放電發(fā)生器校準(zhǔn)數(shù)據(jù)如下：

校準(zhǔn)數(shù)據(jù)：