這個是不一定需要的，盡量將每次校準(zhǔn)的state存入VNA，名字最好為校準(zhǔn)狀態(tài)，例如頻率范圍，輸入激勵功率等。如果有新的測試項目，但是它的測試條件和已有狀態(tài)相似，且load state后，檢查校準(zhǔn)狀態(tài)良好，就可用使用以前的校準(zhǔn)狀態(tài)，而不需要重新校準(zhǔn)。將校準(zhǔn)state保存并調(diào)用的好處在于：Calibration Kit也是有使用壽命的，多次的校準(zhǔn)，會是的校準(zhǔn)件多次和校準(zhǔn)電纜接觸，可能污染校準(zhǔn)件，使得校準(zhǔn)件特性發(fā)生改變，影響下一次校準(zhǔn)。盡量養(yǎng)成如下習(xí)慣：將網(wǎng)絡(luò)分析儀的port不用的時候加上防塵套；對測試電纜進(jìn)行標(biāo)號，使得VNA每個port盡可能固定連接某個電纜；對測試電纜不用時，也需要加上防塵套；盡量不用很臟的測試電纜等。

VNA的校準(zhǔn)是精確測量前必要的準(zhǔn)備。

以單端口DUT測量為例，測試模型參考o(jì)ne port error model。

由于VNA的輸出和DUT的待測輸入一般都存在中間過渡件/連接件，使得理想網(wǎng)絡(luò)分析儀的測試平面和DUT的待測平面間出現(xiàn)了一個誤差網(wǎng)絡(luò)。對于單端口誤差模型，有三個誤差項。為了求解三個誤差項，由線性矩陣?yán)碚摚枰⑷齻€不相關(guān)的方程來求解。校準(zhǔn)的原理就是建立這三個方程。

通過在測試面加入三個已知特性的校準(zhǔn)件，例如開路件，反射系數(shù)理論上為1，短路件，反射系數(shù)理論上為-1，負(fù)載件反射系數(shù)理論上為0。通過VNA測量這三個校準(zhǔn)件，得到實際測量結(jié)果。也就得到包含三個誤差模型的線性方程，通過求解就能得到三個誤差項。在后續(xù)的測量中，在直接獲得的測試結(jié)果中，先通過數(shù)學(xué)運算，消除三個誤差項帶來的影響，顯示給用戶的就是校準(zhǔn)后DUT的特性。

當(dāng)然兩端口誤差模型更加復(fù)雜，分為正向和反向，正向具有6個誤差項，反向也有6個誤差項，總共有12個誤差項需要求解，求解方法可用參考“RF Measurement of Die and Packages”。

當(dāng)然一般網(wǎng)絡(luò)分析儀提供的二端口矢量校準(zhǔn)方法為SOLT，通過單端口的分析，其實校準(zhǔn)件的本質(zhì)是建立誤差模型方程，選擇不同已知反射系數(shù)的校準(zhǔn)件，就得到了很多不同的校準(zhǔn)方法，例如LRM，LRRM，TRL等等。

當(dāng)然校準(zhǔn)的本質(zhì)也是去嵌入(De-embedding)的過程，去嵌入的本質(zhì)得到誤差網(wǎng)絡(luò)的S參數(shù)，通過轉(zhuǎn)換到T參數(shù)，運用級聯(lián)運算進(jìn)行消除。去嵌入還能夠消除非傳輸線網(wǎng)絡(luò)的S參數(shù)，應(yīng)用也比校準(zhǔn)廣泛。

實際校準(zhǔn)的方法：

盡管一般VNA的User Guider上都有儀器校準(zhǔn)的方法，但是還有很多細(xì)節(jié)需要注意的：

1、設(shè)定測試參數(shù)

選擇測試頻率范圍：一般的頻率范圍要稍微大于測試指標(biāo)規(guī)定的范圍，選擇VNA Port激勵功率，對于無源器件，可以選擇稍微大的激勵功率，例如0dBm，但是對于測試Amplifier等小信號器件，一般激勵信號要小于器件的1dB壓縮點，對于Power Amplifier等大功率器件，需要減小VNA的輸入信號功率，同時要在PA的輸出和VNA的輸入間加入衰減器。但是過分減小VNA的輸入信號功率，可能會使得S11和S22測量誤差增大。如果對于多端口VNA，還需要選擇測試port。

2、選擇校準(zhǔn)件，選擇校準(zhǔn)方法，通過儀器校準(zhǔn)的Guide完成校準(zhǔn)

每個公司都有不同的規(guī)格的校準(zhǔn)件，例如N型的，SMA型的，這個在校準(zhǔn)之前一定要選擇好，這個是因為廠家提供的校準(zhǔn)件，開路短路負(fù)載等也不是理想的反射系數(shù)分別為1，-1和0。同公司的VNA中會定義校準(zhǔn)件，將校準(zhǔn)件的特性預(yù)先存入VNA，以便校準(zhǔn)時求解誤差方程。因此，如果校準(zhǔn)件選擇不當(dāng)，校準(zhǔn)的意義也就沒有了。