圖9 示波器環(huán)路測(cè)試

2、ZDS示波器—電源分析功能

開(kāi)關(guān)電源的質(zhì)量直接影響到產(chǎn)品的技術(shù)性能以及其安全性和可靠性。電源測(cè)試項(xiàng)目多,計(jì)算量大,統(tǒng)計(jì)繁瑣等問(wèn)題一直困擾著工程師們,為了解決這些問(wèn)題,致遠(yuǎn)電子在示波器中增加開(kāi)關(guān)損耗、SOA、電感測(cè)試等電源分析功能。

圖10 電源測(cè)試

3、ZDS示波器—SOA安全工作區(qū)測(cè)試

開(kāi)關(guān)器件長(zhǎng)期承受較大功耗,一但過(guò)壓或過(guò)流就可能會(huì)導(dǎo)致器件損壞甚至爆炸。通過(guò)ZDS示波器定制的SOA安全工作區(qū)測(cè)量功能,可以準(zhǔn)確評(píng)估整個(gè)工作周期內(nèi)開(kāi)關(guān)器件的所有狀態(tài),明確給出電源超出安全工作區(qū)的異常概率,便于工程師更好的評(píng)估電源工作穩(wěn)定性。

圖11 SOA測(cè)試

4、ZDS示波器—開(kāi)關(guān)損耗一鍵測(cè)試

PFC MOS管開(kāi)關(guān)損耗測(cè)試是電源調(diào)試中的難點(diǎn),由于不同周期的電壓和電流波形都不相同,功率損耗的準(zhǔn)確評(píng)估也更依賴(lài)長(zhǎng)時(shí)間高采樣率的波形捕獲,因此存儲(chǔ)深度和功率損耗運(yùn)算原始點(diǎn)數(shù)成為開(kāi)關(guān)損耗準(zhǔn)確與否的關(guān)鍵。

ZDS示波器最高可達(dá)512M存儲(chǔ)深度,并通過(guò)全硬件加速處理優(yōu)化,可精準(zhǔn)量化開(kāi)關(guān)器件的功率損耗。

圖12 開(kāi)關(guān)損耗測(cè)試